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偽半固態觸變成形制備SiCp/Al電子封裝材料的組織與性能

郭明海 劉俊友 賈成廠 果世駒 李艷霞 周洪宇

郭明海, 劉俊友, 賈成廠, 果世駒, 李艷霞, 周洪宇. 偽半固態觸變成形制備SiCp/Al電子封裝材料的組織與性能[J]. 工程科學學報, 2014, 36(4): 489-495. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.2014.04.011
引用本文: 郭明海, 劉俊友, 賈成廠, 果世駒, 李艷霞, 周洪宇. 偽半固態觸變成形制備SiCp/Al電子封裝材料的組織與性能[J]. 工程科學學報, 2014, 36(4): 489-495. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.2014.04.011
GUO Ming-hai, LIU Jun-you, JIA Cheng-chang, GUO Shi-ju, LI Yan-xia, ZHOU Hong-yu. Microstructure and properties of SiCp/Al electronic packaging materials fabricated by pseudo-semi-solid thixoforming[J]. Chinese Journal of Engineering, 2014, 36(4): 489-495. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.2014.04.011
Citation: GUO Ming-hai, LIU Jun-you, JIA Cheng-chang, GUO Shi-ju, LI Yan-xia, ZHOU Hong-yu. Microstructure and properties of SiCp/Al electronic packaging materials fabricated by pseudo-semi-solid thixoforming[J]. Chinese Journal of Engineering, 2014, 36(4): 489-495. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.2014.04.011

偽半固態觸變成形制備SiCp/Al電子封裝材料的組織與性能

doi: 10.13374/j.issn1001-053x.2014.04.011
詳細信息
    通訊作者:

    郭明海,E-mail:qifeng_guo@126.com

  • 中圖分類號: TN405

Microstructure and properties of SiCp/Al electronic packaging materials fabricated by pseudo-semi-solid thixoforming

  • 摘要: 采用偽半固態觸變成形工藝制備了40%、56%和63%三種不同SiC體積分數顆粒增強Al基電子封裝材料,并借助光學顯微鏡和掃描電鏡分析了材料中Al和SiC的形態分布及其斷口形貌,測定了材料的密度、致密度、熱導率、熱膨脹系數、抗壓強度和抗彎強度.結果表明,通過偽半固態觸變成形工藝可制備出的不同SiC體積分數Al基電子封裝材料,其致密度高,熱膨脹系數可控,材料中Al基體相互連接構成網狀,SiC顆粒均勻鑲嵌分布于Al基體中.隨著SiC顆粒體積分數的增加,電子封裝材料密度和室溫下的熱導率稍有增加,熱膨脹系數逐漸減小,室溫下的抗壓強度和抗彎強度逐漸增加.SiC/Al電子封裝材料的斷裂方式為SiC的脆性斷裂,同時伴隨著Al基體的韌性斷裂.

     

  • 加載中
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出版歷程
  • 收稿日期:  2013-04-17
  • 網絡出版日期:  2021-07-10

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